平面光栅衍射效率测试仪

实用新型专利无效专利

申请号：
CN98246386.3
IPC分类号：--
申请日期：
1998-11-11
申请人：
中国科学院长春光学精密机械研究所

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法律信息

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著录项信息

专利名称	平面光栅衍射效率测试仪
申请号	CN98246386.3	申请日期	1998-11-11
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	中国科学院长春光学精密机械研究所	申请人地址	吉林省长春市人民大街140号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院长春光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院长春光学精密机械研究所
发明人	齐向东
代理机构	中国科学院长春专利事务所	代理人	梁爱华

摘要

本实用新型属于光学技术领域,涉及对一种平面衍射光栅的衍射效率测试仪的改进。采用二次衍射以及使用一种特殊的半反半透镜。本实用新型的优点是:①彻底解决了以前仪器同步精度不易保证的难题;②解决了传统测试仪受前置单色仪分光光栅光谱范围限制的问题;③消除了传统测试仪因前置单色仪与测试单色仪色散率不匹配而产生的测量误差;④降低了机械加工精度和控制难度,简化了结构,测量速度和工作效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN101957257A	2010-09-10	2010-09-10	一种凹面光栅衍射效率的测试方法失效专利	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
2	CN106441823B	2016-12-07	2016-12-07	光栅的线密度测量方法有效专利	上海理工大学
3	CN101995327A	2010-09-10	2010-09-10	一种凹面光栅衍射效率测试仪的光路结构失效专利	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
4	CN103245488B	2013-04-02	2013-04-02	一种宽波段大尺寸平面光栅衍射效率测试仪有效专利	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
5	CN106596058A	2016-11-21	2016-11-21	光栅衍射效率光谱测量装置和测量方法有效专利	中国科学院上海光学精密机械研究所
6	CN103226058B	2013-04-02	2013-04-02	一种基于补偿算法的光栅衍射效率的测量方法有效专利	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
7	CN100359299C	2003-11-03	2003-11-03	一种光路对称分布的光栅衍射效率测试仪失效专利	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
8	CN101464210B	2008-12-30	2008-12-30	光栅检测仪失效专利	东莞宏威数码机械有限公司;清华大学深圳研究生院
9	CN106441823A	2016-12-07	2016-12-07	光栅的线密度测量方法有效专利	上海理工大学
10	CN103226058A	2013-04-02	2013-04-02	一种基于补偿算法的光栅衍射效率的测量方法有效专利	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
11	CN103245488A	2013-04-02	2013-04-02	一种宽波段大尺寸平面光栅衍射效率测试仪有效专利	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
12	CN101995327B	2010-09-10	2010-09-10	一种凹面光栅衍射效率测试仪的光路结构失效专利	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
13	CN100443880C	2005-03-25	2005-03-25	实时动态体全息衍射效率测量方法及系统失效专利	中国科学院西安光学精密机械研究所

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