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一种基于补偿算法的光栅衍射效率的测量方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201310113533.6
  • IPC分类号:G01M11/02
  • 申请日期:
    2013-04-02
  • 申请人:
    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
著录项信息
专利名称一种基于补偿算法的光栅衍射效率的测量方法
申请号CN201310113533.6申请日期2013-04-02
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2013-07-31公开/公告号CN103226058A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01M11/02IPC分类号G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请人地址
吉林省长春市北湖科技开发区明溪路1759号吉林省光电子产业孵化器有限公司D315-D323 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人长春长光格瑞光电技术有限公司当前权利人长春长光格瑞光电技术有限公司
发明人曹海霞;陈少杰;巴音贺希格;齐向东;潘明忠;崔继承;唐玉国
代理机构长春菁华专利商标代理事务所代理人陶尊新
摘要
一种基于补偿算法的光栅衍射效率的测量方法,涉及光谱技术领域,解决现有的光栅衍射效率测量方法存在测量误差并导致测量结果不准确的问题,包括对前置单色仪进行波长标定;准备待测平面光栅和参考平面反射镜;测量参考平面反射镜的反射光通量;输入待测平面光栅的基本参数,如刻线密度、待测波长范围、闪耀波长等,测量待测平面光栅测试波长的衍射光通量;计算由光栅色散引起的出射光谱增宽宽度和光栅旋转造成的光束截面因子,计算存在误差的测量值,根据补偿模型,基于补偿算法计算待测光栅的衍射效率。本测量方法可设置起始波长、终止波长及扫描步长,并具有对测量结果进行自动修正的功能。且测量方法简单,测试过程性能稳定、自动化程度高。

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