专利名称 | 光栅衍射效率的测量装置和方法 | ||
申请号 | CN200910050311.8 | 申请日期 | 2009-04-30 |
法律状态 | 权利终止 | 申报国家 | 中国 |
公开/公告日 | 2009-09-30 | 公开/公告号 | CN101545826 |
优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
主分类号 | G01M11/02 | IPC分类号 | 查看分类表> |
申请人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 申请人地址 |
变更
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权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 当前权利人 | |
发明人 | 汪剑鹏;麻健勇;晋云霞;刘光辉;邵建达;范正修 | ||
代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人 | 张泽纯 |
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