一种凹面光栅衍射效率测试仪的光路结构

发明专利无效专利

申请号：
CN201010277331.1
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2010-09-10
申请人：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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著录项信息

专利名称	一种凹面光栅衍射效率测试仪的光路结构
申请号	CN201010277331.1	申请日期	2010-09-10
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2011-03-30	公开/公告号	CN101995327A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	申请人地址	吉林省长春市东南湖大路3888号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	当前权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人	巴音贺希格;寇婕婷;吴娜;唐玉国;齐向东;于宏柱;朱文煜
代理机构	长春菁华专利商标代理事务所	代理人	刘树清

摘要

一种凹面光栅衍射效率测试仪的光路结构，属于光谱技术领域中涉及的一种凹面光栅衍射效率测试仪。要解决的技术问题是：提供一种凹面光栅衍射效率测试的光路结构。解决技术问题的技术方案是：包括光源外光路、前置单色仪、测量单色仪和控制器。在前置单色仪的壳体外侧，光源外光路的光经聚光镜反射，在入射狭缝处聚焦并入射到前置单色仪中，出射光线通过光纤传入测量单色仪内，测量单色仪主要由入射光臂、出射光臂、光栅转台和光电倍增管组成，标准凹面反射镜和被测凹面光栅先后放在光栅转台上进行测量，由光电倍增管先后接收标准凹面反射镜的反射光通量和被测凹面光栅的衍射光通量，以此完成凹面光栅的衍射效率测量。该光路结构简单、实用。

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