一种宽波段大尺寸平面光栅衍射效率测试仪

发明专利有效专利

申请号：
CN201310113559.0
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2013-04-02
申请人：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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著录项信息

专利名称	一种宽波段大尺寸平面光栅衍射效率测试仪
申请号	CN201310113559.0	申请日期	2013-04-02
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-08-14	公开/公告号	CN103245488A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	申请人地址	吉林省长春市东南湖大路3888号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	当前权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人	陈少杰;曹海霞;齐向东;巴音贺希格;崔继承;唐玉国;朱文煜
代理机构	长春菁华专利商标代理事务所	代理人	陶尊新

摘要

一种宽波段大尺寸平面光栅衍射效率测试仪，涉及光谱技术领域，解决现有光栅衍射效率测试仪无法实现宽波段范围内衍射效率的测量的问题，包括光源系统、前置单色仪、测量单色仪、探测系统和控制器；第一平面反射镜和第二平面反射镜和聚光镜；前置单色仪包括第一凹面准直镜、分光光栅组、第一转台、第一凹面成像镜和前置单色仪壳体；测量单色仪包括第二入射狭缝、第二凹面准直镜、第二转台、第二凹面成像镜和测量单色仪壳体；探测系统分别获取参考平面反射镜与待测平面光栅的衍射光通量，对待测平面光栅的衍射光通量与参考平面反射镜的反射光通量求比值，获得待测平面光栅的衍射效率。该衍射效率测试仪能够满足大口径平面光栅衍射效率的测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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