一种光路对称分布的光栅衍射效率测试仪

发明专利无效专利

申请号：
CN200310109973.0
IPC分类号：G01J3/18;G01J3/28;G01J3/427
申请日期：
2003-11-03
申请人：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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著录项信息

专利名称	一种光路对称分布的光栅衍射效率测试仪
申请号	CN200310109973.0	申请日期	2003-11-03
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2004-11-03	公开/公告号	CN1542414
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/18 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/12 光谱的产生；单色器 G01J3/18 利用衍射元件，例如光栅	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;1;8;;;G;0;1;J;3;/;2;8;;;G;0;1;J;3;/;4;2;7查看分类表>
申请人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	申请人地址	吉林省长春市东南湖大路16号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	当前权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人	齐向东;于宏柱;巴音贺西格;李文昊
代理机构	长春菁华专利商标代理事务所	代理人	赵炳仁

摘要

一种光路对称分布的光栅衍射效率测试仪，属于光谱技术领域中涉及的一种光栅衍射效率测试仪。本发明要解决的技术问题是：提供一种光路对称分布的光栅衍射效率测试仪。解决技术问题的技术方案是：本发明包括光源外光路、测量单色仪、控制系统。在测量单色仪的壳体外侧，在光源的光的传播方向置有反射聚光镜和平面反射镜，使经过它们的反射光线在入射狭缝处聚焦并入射到测试仪中，测量单色仪是一个在壳体内部以反透吸收光调制盘和半反半透镜为界的光路对称的测量单色仪，一路为测量光路，另一路为参考光路，测量过程是在控制系统控制下实现的，自动化程度高，测试结果可信。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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