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49S/SMD晶体自动测试检测封装机

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN200920095688.0
  • IPC分类号:H01L21/66;H01L21/50;G01R31/28
  • 申请日期:
    2009-02-27
  • 申请人:
    天津伍嘉联创科技发展有限公司
著录项信息
专利名称49S/SMD晶体自动测试检测封装机
申请号CN200920095688.0申请日期2009-02-27
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/66IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;6;6;;;H;0;1;L;2;1;/;5;0;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人天津伍嘉联创科技发展有限公司申请人地址
天津市塘沽区新北路4668号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人天津伍嘉联创科技发展有限公司当前权利人天津伍嘉联创科技发展有限公司
发明人付玉磊;刘金波;付廷喜;李向前
代理机构天津中环专利商标代理有限公司代理人胡京生
摘要
本实用新型涉及一种49S/SMD晶体自动测试检测封装机,它包括工控机,还包括有工作平台、振动上料装置、分料测试装置、视觉判别A装置、晶体移载定向装置、供载带装置、载带导向装置、视觉判别B装置、热封上膜供料装置、载带热封机构、载带驱动装置、载带收料装置、机架。本实用新型的特点是:能将散装49S/SMD晶体通过分料机构有效分工,测试、判别“良品”和不良品,再通过视觉系统判别摆放方向和判断表面的状况,把真正的良品封带包装,把不良品放到不良品回收装置,速度快、准确度高、自动化程度高完全代替了人工操作。

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