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待测物出现次数记录装置及方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201410756684.8
  • IPC分类号:H04N5/232;H04N5/76;G06F17/30
  • 申请日期:
    2014-12-10
  • 申请人:
    信泰光学(深圳)有限公司;亚洲光学股份有限公司
著录项信息
专利名称待测物出现次数记录装置及方法
申请号CN201410756684.8申请日期2014-12-10
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2016-07-06公开/公告号CN105744140A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04N5/232IPC分类号H;0;4;N;5;/;2;3;2;;;H;0;4;N;5;/;7;6;;;G;0;6;F;1;7;/;3;0查看分类表>
申请人信泰光学(深圳)有限公司;亚洲光学股份有限公司申请人地址
广东省深圳市宝安区公明镇李松蓢工业区期尾工业园第1、2、3栋 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人信泰光学(深圳)有限公司,亚洲光学股份有限公司当前权利人信泰光学(深圳)有限公司,亚洲光学股份有限公司
发明人黄明勇
代理机构深圳市顺天达专利商标代理有限公司代理人王小青
摘要
一种待测物出现次数记录装置及方法,该装置包括感测单元、处理单元、撷取装置以及储存单元。感测单元用以侦测待测物的特性,并发出触发讯号,处理单元接收该触发讯号并发出驱动讯号,撷取装置接收该驱动讯号并撷取该待测物的讯息,储存单元储存有特征数据库,该特征数据库具有复数个特征,每一该特征对应于待测物种类,其中,该处理单元解析该讯息后得到至少一解析特征,将该解析特征与这些特征做比对而得到该特征所对应的待测物种类,并对该解析特征所对应的待测物种类进行计数,该计数的结果储存在该储存单元中。

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