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半导体器件及其制造方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200780035073.2
  • IPC分类号:H01L21/8238;H01L21/28;H01L27/092;H01L29/423;H01L29/49;H01L29/78
  • 申请日期:
    2007-06-04
  • 申请人:
    日本电气株式会社
著录项信息
专利名称半导体器件及其制造方法
申请号CN200780035073.2申请日期2007-06-04
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2009-08-26公开/公告号CN101517732
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/8238
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IPC结构图谱:
IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;8;2;3;8;;;H;0;1;L;2;1;/;2;8;;;H;0;1;L;2;7;/;0;9;2;;;H;0;1;L;2;9;/;4;2;3;;;H;0;1;L;2;9;/;4;9;;;H;0;1;L;2;9;/;7;8查看分类表>
申请人日本电气株式会社申请人地址
日本东京 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人知识产权之桥一号有限责任公司当前权利人知识产权之桥一号有限责任公司
发明人间部谦三
代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司代理人孙志湧;穆德骏
摘要
一种半导体器件,包括:硅衬底;N沟道场效应晶体管,其包括在硅衬底上的第一栅极绝缘膜、在第一栅极绝缘膜上的第一栅极电极以及第一源极/漏极区域;以及P沟道场效应晶体管,其包括在硅衬底上的第二栅绝缘膜、在第二栅绝缘膜上的第二栅极电极以及第二源极/漏极区域。第一栅极电极和第二栅极电极中的每个包括:结晶硅化镍区域,其包含杂质元素,所述结晶硅化镍区域与第一栅极绝缘膜或第二栅极绝缘膜接触;以及在上部中的阻挡层区域,其包括栅极电极的上表面,所述阻挡层区域包含浓度比上部下方的下部的浓度高的抑制Ni扩散元素。

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