一种集成电路引脚检测方法、装置、终端及存储介质

发明专利有效专利

申请号：
CN202110679669.8
IPC分类号：G06T7/00;G06T7/10
申请日期：
2021-06-18
申请人：
广东工业大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种集成电路引脚检测方法、装置、终端及存储介质
申请号	CN202110679669.8	申请日期	2021-06-18
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-08-27	公开/公告号	CN113313704A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;7;/;1;0查看分类表>
申请人	广东工业大学	申请人地址	广东省广州市越秀区东风东路729号大院变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	广东工业大学	当前权利人	广东工业大学
发明人	蔡念;陈文杰;肖盟;郭威志;马崇润;王晗;陈梅云
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	刘思言

摘要

本申请公开了一种集成电路引脚检测方法、装置、终端及存储介质。本申请提供的集成电路引脚检测方法，对于训练集的合格样本与不合格样本采用不同的缺陷二值图处理方式，得到由两类缺陷二值图构成的缺陷图训练集，并利用该缺陷图训练接构建缺陷识别模型得到待测IC图像的待测缺陷二值图，结合获取的待测IC图像和IC引脚评估模型确定待测IC图像的引脚检测结果。解决了现有技术IC焊点检测只注重合格样本作为训练样本，忽略了不合格样本导致的检测准确度差的技术问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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