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离散激光测量系统光轴外化方法和集成调试方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202011301680.2
  • IPC分类号:G02B27/62;G02B27/00
  • 申请日期:
    2020-11-19
  • 申请人:
    中国科学院西安光学精密机械研究所
著录项信息
专利名称离散激光测量系统光轴外化方法和集成调试方法
申请号CN202011301680.2申请日期2020-11-19
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2021-03-02公开/公告号CN112433385A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G02B27/62IPC分类号G;0;2;B;2;7;/;6;2;;;G;0;2;B;2;7;/;0;0查看分类表>
申请人中国科学院西安光学精密机械研究所申请人地址
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院西安光学精密机械研究所当前权利人中国科学院西安光学精密机械研究所
发明人达争尚;郑小霞;李红光;高立民;孙策
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司代理人王凯敏
摘要
为了使离散激光测量系统的调试集成过程大大简化,缩短集成调试时间,本发明提供了一种离散激光测量系统光轴外化方法和集成调试方法。本发明将离散激光测量系统的光轴外化标识,为系统中的众多光学元件提供了“可见”的、统一的光轴基准,将光学元件通过孔位安装即可实现基本就位,并且离散光学元件之间的光轴没有耦合影响,能够并行同时作业,从而使得离散激光测量系统集成调试过程大大简化,缩短了集成调试时间。

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