一种固体电介质材料陷阱参数测量装置及测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201210323233.6
IPC分类号：G01N27/60
申请日期：
2012-09-04
申请人：
西安交通大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种固体电介质材料陷阱参数测量装置及测量方法
申请号	CN201210323233.6	申请日期	2012-09-04
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-12-26	公开/公告号	CN102841123A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N27/60 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N27/00 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 25/00优先；电或磁变量的测量或试验，材料的电磁性能的测试或试验入G01R） G01N27/60 通过测试静电变量	IPC分类号	G;0;1;N;2;7;/;6;0查看分类表>
申请人	西安交通大学	申请人地址	陕西省西安市咸宁西路28号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安交通大学	当前权利人	西安交通大学
发明人	申文伟;张冠军;穆海宝;邓军波
代理机构	西安通大专利代理有限责任公司	代理人	陆万寿

摘要

本发明公开了一种固体电介质陷阱参数测量装置及测量方法，采用三电极电晕放电系统对固体电介质材料进行充电，将待测材料试样置于单针电极和金属网电极下方，试样通过导电硅脂粘在金属圆盘电极上，三电极系统对试样充电，充电后，撤掉外施电压，并短路放电，去除表面自由电荷，测量试样的表面电位衰减，通过信号调理电路和数据采集系统计算得出材料的陷阱能级和陷阱密度参数；系统包括：恒温箱体，三电极电晕充电系统，表面电位测量系统，试样预热系统，可旋转电极，温湿度控制系统。本发明为陷阱参数表征聚合物绝缘材料老化状况和聚合物的老化规律研究，为固体电介质表面带电现象及其对沿面闪络性能影响等方面的研究提供一种有效的分析手段。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供