一种同时测量同位素丰度与杂质含量的质谱系统与方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110302534.X
IPC分类号：G01N30/72;G01N30/06
申请日期：
2021-03-22
申请人：
启先核（北京）科技有限公司

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专利名称	一种同时测量同位素丰度与杂质含量的质谱系统与方法
申请号	CN202110302534.X	申请日期	2021-03-22
法律状态	实质审查	申报国家	暂无
公开/公告日	2021-07-23	公开/公告号	CN113156032A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N30/72 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N30/00 利用吸附作用、吸收作用或类似现象，或者利用离子交换，例如色谱法将材料分离成各个组分，来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 29/00优先）〔4〕 G01N30/02 柱色谱法〔4〕 G01N30/62 相应的专用检测器〔4〕 G01N30/72 质谱仪〔4〕	IPC分类号	G;0;1;N;3;0;/;7;2;;;G;0;1;N;3;0;/;0;6查看分类表>
申请人	启先核（北京）科技有限公司	申请人地址	北京市石景山区八大处路49号院6号楼15层1543号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	启先核（北京）科技有限公司	当前权利人	启先核（北京）科技有限公司
发明人	姜山
代理机构	深圳市尔逊专利代理事务所（普通合伙）	代理人	周盈如

摘要

本发明提供一种同时测量同位素丰度与杂质含量的质谱系统与方法，质谱系统包括：离子源系统，用于进样和引出多电荷态的离子束流；加速度子系统，用于对多电荷态离子进行加速、同时将多电荷态离子在能量和动量进行聚焦和分析；以及探测器子系统，用于检测同位素离子的束流、区分两种同量异位素以及区分两种具有相同质荷比的离子。本发明利用多电荷态的电子回旋共振离子源能够瓦解所有分子离子，利用薄膜吸收技术和单粒子能量探测技术能够分辨同量异位素离子，从而显著提高了同位素丰度测量的灵敏度，降低了对每一种元素的检测下限，能够实现材料或样品中同位素丰度比值和杂质含量的同时、准确以及快速测量。

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