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一种用于微波辐照下磁输运测试的样品杆

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201110250712.5
  • IPC分类号:G01R33/12
  • 申请日期:
    2011-08-29
  • 申请人:
    中国科学院上海技术物理研究所
著录项信息
专利名称一种用于微波辐照下磁输运测试的样品杆
申请号CN201110250712.5申请日期2011-08-29
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2012-01-11公开/公告号CN102313874A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R33/12IPC分类号G;0;1;R;3;3;/;1;2查看分类表>
申请人中国科学院上海技术物理研究所申请人地址
上海市虹口区玉田路500号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院上海技术物理研究所当前权利人中国科学院上海技术物理研究所
发明人俞国林;刘新智;敬承斌;孙雷;褚君浩;魏来明;周远明;高矿红;林铁
代理机构上海新天专利代理有限公司代理人郭英
摘要
本发明公开了一种用于微波辐照下磁输运测试的样品杆,它用于研究极低温下微波辐照对材料电学特性和自旋特性的影响。样品杆由不锈钢管、波导管及转接口、同轴电缆及转接口、测试引线及插座,样品架、密封套和抽气口等组成。系统的主要特征在于将波导管和同轴电缆引入样品杆内,波导管和同轴电缆分别将高频和低频微波导入到样品处;波导管选用高强度、低热导率的碳纤维复合材料管,实现了样品温度在极低温下的稳定。该系统为极低温、强磁场中微波辐照下磁输运测试和自旋共振研究提供了有力的研究工具。

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