使用高分辨率透射电子显微镜图像的晶粒分析方法和系统

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专利名称	使用高分辨率透射电子显微镜图像的晶粒分析方法和系统
申请号	CN201610135002.0	申请日期	2016-03-10
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-09-28	公开/公告号	CN105976349A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;K;9;/;0;0查看分类表>
申请人	三星电子株式会社	申请人地址	韩国京畿道水原市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	三星电子株式会社	当前权利人	三星电子株式会社
发明人	朴民哲;金大新;金赛彬;金世珍;夏志良;李济铉
代理机构	北京铭硕知识产权代理有限公司	代理人	郭鸿禧;王兆赓

摘要

本发明提供一种使用高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)图像的晶粒分析方法和系统。所述方法涉及分析纳米晶粒，包括：接收HRTEM图像，针对HRTEM图像设置每个具有预定大小的局部窗口，对通过局部窗口确定的像素数据执行至少一次快速傅里叶变换以计算局部转换数据，基于局部转换数据分析晶粒。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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