集成电路的测试

发明专利无效专利

申请号：
CN200480003853.5
IPC分类号：G01R31/3185
申请日期：
2004-01-28
申请人：
皇家飞利浦电子股份有限公司

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著录项信息

专利名称	集成电路的测试
申请号	CN200480003853.5	申请日期	2004-01-28
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2006-03-15	公开/公告号	CN1748154
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/3185 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕 G01R31/3181 性能测试（G01R 31/3177优先）〔6〕 G01R31/3185 测试的重新配置，例如LSSD，划分〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;8;5查看分类表>
申请人	皇家飞利浦电子股份有限公司	申请人地址	荷兰艾恩德霍芬变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	NXP股份有限公司	当前权利人	NXP股份有限公司
发明人	L·M·A·范德洛特;T·F·瓦耶斯;F·范德海登
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	王波波

摘要

一种具有测试接口的集成电路包含具有单元(14)的边界扫描链，该单元(14)在移位寄存器结构中耦合在测试数据输入(TDI)和输出(TDO)之间。每个单元(14)还耦合在各个端子(16)和核心电路(10)之间。测试控制电路(TAP_C)支持将边界扫描链转换到一种模式的指令，在该模式中单元(14)中可选择的第一些单元沿着边界扫描链连续地输送数据，同时在另一模式中单元(14)中可选择的第二些单元经由单元(14)的第一个把输送了的或将要输送的数据从扫描链写入或读取到端子(16)或者从端子(16)写入或读取到扫描链。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN1278332A	2000-12-27	1998-11-03	具有地址相关指令的边界扫描系统失效专利	爱特梅尔股份有限公司
2	CN1369714A	2002-09-18	2001-07-18	大规模集成电路边界扫描测试系统无效专利	中国人民解放军第二炮兵工程学院技术开发中心
3	US5627842A	暂无	1996-06-04	Architecture for system-wide standardized intra-module and inter-module fault testing失效专利	Joseph H. Brown;Dilip K. Bhavsar

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN102043122B	2011-01-17	2011-01-17	一种改进扫描链单元及基于该单元的非并发测试方法失效专利	哈尔滨工业大学
2	CN102043122A	2011-01-17	2011-01-17	一种改进扫描链单元及基于该单元的非并发测试方法失效专利	哈尔滨工业大学

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