一种电机驱动的IC测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202020182044.1
IPC分类号：G01R31/28;G01L5/00
申请日期：
2020-02-18
申请人：
上海中艺自动化系统有限公司

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著录项信息

专利名称	一种电机驱动的IC测试装置
申请号	CN202020182044.1	申请日期	2020-02-18
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;L;5;/;0;0查看分类表>
申请人	上海中艺自动化系统有限公司	申请人地址	上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区郭守敬路498号14幢22301-642座变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海中艺自动化系统有限公司	当前权利人	上海中艺自动化系统有限公司
发明人	梁大明
代理机构	上海思牛达专利代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	暂无

摘要

本实用新型提出了一种电机驱动的IC测试装置，包括支撑架、电机、丝杆、丝杆螺母、测试基座，电机固定在支撑架的上端，丝杆和电机的驱动轴连接，丝杆螺母与丝杆螺纹连接，丝杆螺母上设有下压联接件，下压联接件下方设有导轨，下压联接件与导轨之间设有安装口，导轨位于测试基座的上方。本实用新型所提供的一种电机驱动的IC测试装置，其上的电机在下压到达固定值后，电机自动反转向上运动，如遇IC放置不到位或引脚变形而导致下压力超出固定值，电机会自动通知系统发出报警，从而防止了因下压力过大而导致产品弯脚、变形、破损等批量不良现象。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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