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N2O掺杂p型Zn1-xCoxO稀磁半导体薄膜及其制备方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200810059939.X
  • IPC分类号:C22C29/12;C23C24/10;H01L43/10;H01L43/12;H01L21/36;H01F41/14;H01F10/193
  • 申请日期:
    2008-03-04
  • 申请人:
    浙江大学
著录项信息
专利名称N2O掺杂p型Zn1-xCoxO稀磁半导体薄膜及其制备方法
申请号CN200810059939.X申请日期2008-03-04
法律状态撤回申报国家暂无
公开/公告日2008-08-06公开/公告号CN101235457
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C22C29/12IPC分类号C;2;2;C;2;9;/;1;2;;;C;2;3;C;2;4;/;1;0;;;H;0;1;L;4;3;/;1;0;;;H;0;1;L;4;3;/;1;2;;;H;0;1;L;2;1;/;3;6;;;H;0;1;F;4;1;/;1;4;;;H;0;1;F;1;0;/;1;9;3查看分类表>
申请人浙江大学申请人地址
浙江省杭州市浙大路38号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人浙江大学当前权利人浙江大学
发明人朱丽萍;叶志高;叶志镇;赵炳辉
代理机构杭州求是专利事务所有限公司代理人韩介梅
摘要
本发明涉及N2O掺杂生长p型Zn1-xCoxO稀磁半导体薄膜的方法,采用的是脉冲激光沉积法。靶材是由纯ZnO、Co2O3粉末混合烧结的陶瓷靶,其中Co的摩尔百分含量x为0<x≤10%。将衬底清洗后放入脉冲激光沉积装置生长室中,生长室抽真空,在压强为2~15Pa的N2O气氛下生长,生长温度为300~700℃。本发明方法简单,p型掺杂浓度可以通过调节N2O气体压强来控制;本方法制得的p型Zn1-xCoxO稀磁半导体薄膜同时具有半导体的性能及磁学性能。载流子浓度为1015~1018cm-3。

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