一种减小双折射色散对保偏光纤偏振耦合测量影响的装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201110118127.X
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2011-05-09
申请人：
哈尔滨工程大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种减小双折射色散对保偏光纤偏振耦合测量影响的装置
申请号	CN201110118127.X	申请日期	2011-05-09
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2011-12-14	公开/公告号	CN102279095A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	哈尔滨工程大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	哈尔滨工程大学	当前权利人	哈尔滨工程大学
发明人	杨军;苑立波
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提供的是一种减小双折射色散对保偏光纤偏振耦合测量影响的装置。包括宽谱光源(1)、待测保偏光纤(3)、偏振耦合检测装置(4)、第一连接光纤(53)、第二连接光纤(54)，还包括三端口光环行器(2)、半反半透光束偏振旋光器(6)、旋光器(7)、第一旋转连接器(51)和第二旋转连接器(52)。半反半透偏振旋光器将宽谱光分成均匀两束，同时从正向和逆向通过待测光纤，利用同一偏振耦合检测装置，同时获得扫描位置对称地两幅偏振耦合测量数据。本发明对于光纤陀螺敏感环的参数测量与性能评价具有非常重要的实用价值，也可广泛应用于分布式保偏光纤传感系统中。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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