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一种提高激光测距性能的结构及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201811214169.1
  • IPC分类号:G01S7/481;G01S17/08
  • 申请日期:
    2018-10-18
  • 申请人:
    成都捷测科技有限公司
著录项信息
专利名称一种提高激光测距性能的结构及方法
申请号CN201811214169.1申请日期2018-10-18
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2019-01-01公开/公告号CN109116329A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01S7/481IPC分类号G;0;1;S;7;/;4;8;1;;;G;0;1;S;1;7;/;0;8查看分类表>
申请人成都捷测科技有限公司申请人地址
四川省成都市武侯区一环路南二段6号龙信大厦518号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人成都捷测科技有限公司当前权利人成都捷测科技有限公司
发明人李杨
代理机构成都九鼎天元知识产权代理有限公司代理人夏琴
摘要
本发明涉及相位式激光测距技术领域,公开了一种提高激光测距性能的结构。包括:发射管、接收管、驱动电路、混频器、信号调理电路和信号分析单元,驱动电路接入频率A,所述信号分析模块连接驱动电路提供激光功率控制电压,所述发射管一端连接Vcc端,另一端连接驱动电路,接收管的驱动器接入频率B,发射管的发射端口和接收管的接收端口对准被测物体,所述混频器同时接入频率A和频率B,混频器连接信号分析单元,接收管连接信号调理电路再连接信号分析单元。本发明还公开了一种提高激光测距性能的方法。本发明采用单发射器、单接收器和一个内部混频器,无内部参考光路所需的机械结构和辅助电路元件。电路结构简单,体积小,可靠性高,成本低。

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