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一种基于循环生成对抗网络的弧面缺陷图像生成方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110253845.1
  • IPC分类号:G06K9/62;G06T7/00
  • 申请日期:
    2021-03-09
  • 申请人:
    华南理工大学
著录项信息
专利名称一种基于循环生成对抗网络的弧面缺陷图像生成方法
申请号CN202110253845.1申请日期2021-03-09
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-06-22公开/公告号CN113011480A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06K9/62IPC分类号G;0;6;K;9;/;6;2;;;G;0;6;T;7;/;0;0查看分类表>
申请人华南理工大学申请人地址
广东省广州市天河区五山路381号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华南理工大学当前权利人华南理工大学
发明人黄茜;朱轲信;胡志辉;师聪颖
代理机构广州市华学知识产权代理有限公司代理人暂无
摘要
本发明属于缺陷图像生成技术领域,涉及一种基于循环生成对抗网络的弧面缺陷图像生成方法,包括步骤1、构建缺陷集和无缺陷集;步骤2、初始化循环生成对抗网络;循环生成对抗网络包括用于从无缺陷的弧面图像转换为含缺陷的弧面图像的GANB→A和用于从含缺陷的弧面图像转换为无缺陷的弧面图像的GANA→B,GANB→A和GANA→B网络结构完全一致;步骤3、训练循环生成对抗网络;步骤4、基于训练好的循环生成对抗网络将无缺陷的弧面图像生成含缺陷的弧面图像。本发明实现了弧面缺陷图像的快速生成,生成缺陷的形状以及面积具有随机性,仅需前期少量的标注工作就可以实现大量缺陷样本的自动化生成。

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