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一种提高电流注入的掩埋型分布反馈半导体结构

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201920110029.3
  • IPC分类号:H01S5/12;H01S5/223;H01S5/323
  • 申请日期:
    2019-01-22
  • 申请人:
    陕西源杰半导体技术有限公司咸阳分公司
著录项信息
专利名称一种提高电流注入的掩埋型分布反馈半导体结构
申请号CN201920110029.3申请日期2019-01-22
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01S5/12IPC分类号H;0;1;S;5;/;1;2;;;H;0;1;S;5;/;2;2;3;;;H;0;1;S;5;/;3;2;3查看分类表>
申请人陕西源杰半导体技术有限公司咸阳分公司申请人地址
陕西省咸阳市西咸新区沣西新城总部经济园9号楼1311室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人陕西源杰半导体科技股份有限公司咸阳分公司当前权利人陕西源杰半导体科技股份有限公司咸阳分公司
发明人刘从军;王兴;张海超;岳宗豪;许众;赵赫;王凡;高晨
代理机构西安通大专利代理有限责任公司代理人徐文权
摘要
本实用新型提供的一种提高电流注入的掩埋型分布反馈半导体结构,包括具有P‑InP/N‑InP同质结结构的衬底,该衬底的表面形成有波导结构,该波导结构的两侧波导区分别形成有N‑InP结构,所述N‑InP结构的高度大于波导结构的高度,使得在波导区正上方形成漏斗状结构;本实用新型提供的一种提高电流注入的掩埋型分布反馈半导体结构,包括具有P‑InP/N‑InP同质结结构的衬底,该衬底的表面形成有波导结构,该波导结构的两侧波导区分别形成有N‑InP结构,所述N‑InP结构的高度大于波导结构的高度,使得在波导区正上方形成漏斗状结构。

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