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一种材料显微蠕变的原位测量系统

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200710039639.0
  • IPC分类号:G01N3/12;G01N3/28;G01N19/00
  • 申请日期:
    2007-04-19
  • 申请人:
    华东理工大学
著录项信息
专利名称一种材料显微蠕变的原位测量系统
申请号CN200710039639.0申请日期2007-04-19
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2007-09-26公开/公告号CN101042319
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N3/12IPC分类号G;0;1;N;3;/;1;2;;;G;0;1;N;3;/;2;8;;;G;0;1;N;1;9;/;0;0查看分类表>
申请人华东理工大学申请人地址
上海市徐汇区梅陇路130号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华东理工大学当前权利人华东理工大学
发明人轩福贞;赵家强;涂善东;王正东;潘波
代理机构上海顺华专利代理有限责任公司代理人谈顺法
摘要
一种用于材料显微蠕变的原位测量方法及装置,属于材料性能测试技术领域,该系统装置能够实时原位获取材料在热环境和机械力耦合条件下的金相图,并在数据处理终端采取基于数字图像相关法得到热环境下材料晶粒尺度下的微观蠕变变形。原位测量装置包括加载机构、加热炉及控制装置、数据获取及处理装置。加热电炉的观测孔实现了对试样的实时原位测量;炉内通有惰性保护气体能够防止试样在高温下被氧化以确保试样数据的准确性;热电偶和试样直接焊接,能够精确测量试样本身的温度;力传感器可以准确测量得到施加在试样上载荷的大小。

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