状态检测电路及控制检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010950331.7
IPC分类号：G01R31/00;G01R19/00
申请日期：
2020-09-11
申请人：
上海海栎创微电子有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	状态检测电路及控制检测方法
申请号	CN202010950331.7	申请日期	2020-09-11
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-11-13	公开/公告号	CN111929522A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;1;9;/;0;0查看分类表>
申请人	上海海栎创微电子有限公司	申请人地址	上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区丹桂路835、937号主楼（1幢）4层411室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海海栎创科技股份有限公司	当前权利人	上海海栎创科技股份有限公司
发明人	秦鹏举;张振浩
代理机构	上海启核知识产权代理有限公司	代理人	王仙子

摘要

本发明公开了一种状态检测电路及控制检测方法，状态检测电路包括IO接口电路，计数电路，分时采样电路；所述计数电路主要用于产生从00到11的计数，并在00到11的四个状态过程中对IO接口电路进行采样控制；所述IO接口电路主要用于在不同的计数状态对电阻的连接信息进行采样，然后转换成逻辑信号输出到所述采样电路中；所述采样电路包括主要用于针对电阻的不同连接的状态，分别进行锁存，然后经过编码，产生内部状态控制信号。本发明的技术方案通过简单的时序控制和电压检测相结合的方式，实现了多达五种不同外接方式的状态检测，省去了比较器的应用，缩小了芯片的面积。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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