一种晶体裂纹检测装置及其监测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202211245419.4
IPC分类号：G01N5/00
申请日期：
2022-10-12
申请人：
江苏晶杰光电科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种晶体裂纹检测装置及其监测方法
申请号	CN202211245419.4	申请日期	2022-10-12
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2022-11-11	公开/公告号	CN115326628A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N5/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N5/00 用称量的方法分析材料，例如称量从气体或液体分离出的微粒（G01N 9/00优先）	IPC分类号	G;0;1;N;5;/;0;0查看分类表>
申请人	江苏晶杰光电科技有限公司	申请人地址	江苏省徐州市邳州市经济开发区环城北路北侧非晶产业园三期16号厂房变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	江苏晶杰光电科技有限公司	当前权利人	江苏晶杰光电科技有限公司
发明人	施剑;陈炳寺
代理机构	东莞市尚标联合知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	钟建星

摘要

本发明涉及裂纹检测装置技术领域，具体涉及一种晶体裂纹检测装置及其监测方法，所述检测装置包括支脚，所述支脚上安装有动力机构，动力机构上设有底架，所述底架上安装有第一电磁铁；所述底架经过动力机构调节第一电磁铁的位置，第一电磁铁对晶体表面的铁粉进行吸附；所述主体上表面设有抬升机构，通过设置铁粉配合动力机构以及第一电磁铁，对于晶体待检测面的存在的铁粉进行移动，在多次往复移动后经第一电磁铁带动多余铁粉的排除，由第二电磁铁吸附晶体待检测面残留的铁粉，配合称重器对吸附的残留铁粉进行称重，再对比标准镜面的数据确定晶体裂纹程度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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