以二维对比度为特征帧匹配测量位移的方法及装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200910190925.6
IPC分类号：G01B11/02;G06T7/00
申请日期：
2009-09-22
申请人：
重庆工商大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	以二维对比度为特征帧匹配测量位移的方法及装置
申请号	CN200910190925.6	申请日期	2009-09-22
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2011-04-20	公开/公告号	CN102022982A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先）	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;2;;;G;0;6;T;7;/;0;0查看分类表>
申请人	重庆工商大学	申请人地址	重庆市南岸区学府大道19号重庆工商大学科研处变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	重庆工商大学	当前权利人	重庆工商大学
发明人	曾艺
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

以二维对比度为特征帧匹配测量位移的方法及装置，由一个计算机摄像头与一台普通的计算机组成；先在参考帧内提取x轴和y轴方向的边方向数据，作为被测物体反射图像的二维特征；对于各个轴方向，分别计算边方向数据的自关联系数，得到各自适合被测物反射面的最佳比较窗像素阵列，取其大者作为比较窗像素阵列；再分别沿各个坐标轴方向，把比较窗与取样帧进行边方向数据的交叉关联匹配计算，取其交叉关联系数值最大者作为最佳匹配者，籍此获得各个轴向的二维位移，取其平均值作为本次测量的位移；据此，调整比较窗的位置或更新参考帧，调整交叉关联匹配算子阵列的规模，以减少计算量，提高测量精度；本发明进一步克服了环境光照变化对测量的影响。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供