发射辐射的半导体本体和半导体芯片

发明专利有效专利

申请号：
CN201880016159.9
IPC分类号：H01L33/14
申请日期：
2018-03-05
申请人：
欧司朗光电半导体有限公司

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著录项信息

专利名称	发射辐射的半导体本体和半导体芯片
申请号	CN201880016159.9	申请日期	2018-03-05
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-10-25	公开/公告号	CN110383506A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01L33/14 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G 9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中半导体器件的使用见该应用的小类）〔2〕 H01L33/00 至少有一个电位跃变势垒或表面势垒的专门适用于光发射的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或设备；这些半导体器件的零部件（H01L 51/00优先；由在一个公共衬底中或其上形成有多个半导体组件并包括具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒，专门适用于光发射的器件入H01L 27/15；半导体激光器入H01S 5/00）〔2，8，2010.01〕 H01L33/02 以半导体为特征的〔2010.01〕 H01L33/14 具有一个载流子传输控制结构，例如高掺杂半导体层或电流阻断结构〔2010.01〕	IPC分类号	H;0;1;L;3;3;/;1;4查看分类表>
申请人	欧司朗光电半导体有限公司	申请人地址	德国雷根斯堡变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	欧司朗光电半导体有限公司	当前权利人	欧司朗光电半导体有限公司
发明人	王雪;马库斯·布勒尔;安娜·尼尔施尔
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	丁永凡;张春水

摘要

提出一种发射辐射的半导体本体(1)，所述半导体本体具有半导体层序列(2)，所述半导体层序列具有设为用于产生辐射的有源区域(20)、n型传导区域(21)和p型传导区域(22)，其中‑有源区域设置在n型传导区域和p型传导区域之间；‑p型传导区域具有电流扩展层(3)，所述电流扩展层基于磷化物化合物半导体材料；并且‑电流扩展层掺杂有第一掺杂材料，所述第一掺杂材料结合于磷晶格位置处。此外，提出一种具有这种半导体本体的半导体芯片。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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