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逻辑电路仿真测试方法和系统

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200610058316.1
  • IPC分类号:G06F17/50
  • 申请日期:
    2006-03-01
  • 申请人:
    华为技术有限公司
著录项信息
专利名称逻辑电路仿真测试方法和系统
申请号CN200610058316.1申请日期2006-03-01
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2006-11-22公开/公告号CN1866263
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F17/50IPC分类号G;0;6;F;1;7;/;5;0查看分类表>
申请人华为技术有限公司申请人地址
广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华为技术有限公司当前权利人华为技术有限公司
发明人王进成;易敏;程智辉;王万财
代理机构北京凯特来知识产权代理有限公司代理人郑立明
摘要
本发明涉及一种逻辑电路仿真测试方法和系统,其核心是:用户通过CPU测试命令装置能够实时将测试命令发送给所述CPUBFM装置,并调用仿真器的运行命令使仿真器进入运行状态;所述CPUBFM装置获取到所述测试命令后,在仿真器运行状态下执行所述测试命令,并将命令执行结果反馈给所述CPU测试命令装置。通过本发明,CPU能够实时对数字逻辑电路的寄存器进行读写操作,方便修改被测设备的配置数据;并且用户可以根据命令执行结果编制控制软件来访问被测设备内部的寄存器或RAM,便于实现自动化测试,使测试过程比较灵活,使测试范围更为充分。

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