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一种应用于芯片的仿真测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200410044396.6
IPC分类号：G01R31/3173;G01R31/28;G06F11/22
申请日期：
2004-05-26
申请人：
华为技术有限公司

基础信息

权利要求

说明书

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种应用于芯片的仿真测试方法
申请号	CN200410044396.6	申请日期	2004-05-26
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2005-12-07	公开/公告号	CN1704764
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/3173 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕 G01R31/3173 临界测试〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;7;3;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;6;F;1;1;/;2;2查看分类表>
申请人	华为技术有限公司	申请人地址	广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华为技术有限公司	当前权利人	华为技术有限公司
发明人	叶华斌
代理机构	北京同达信恒知识产权代理有限公司	代理人	黄志华

摘要

本发明提供一种应用于芯片的仿真测试方法，以解决现有技术中输入仿真数据多、仿真时间过长的问题。所述方法为：(1)向所述的芯片发送测试数据；(2)利用仿真器直接向所述数据缓存区所在的模块强制施加有效的反压信号，使所述的模块停止从所述数据缓存区读取数据；(3)仿真一段时间，使所述数据缓存区的存储容量达到临界状态后观察测试结果。

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