半桥电路性能测试系统及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110631861.X
IPC分类号：G01R31/3163
申请日期：
2021-06-07
申请人：
苏州市运泰利自动化设备有限公司

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著录项信息

专利名称	半桥电路性能测试系统及方法
申请号	CN202110631861.X	申请日期	2021-06-07
法律状态	实质审查	申报国家	暂无
公开/公告日	2021-08-24	公开/公告号	CN113295989A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/3163 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/316 模拟电路的测试〔6〕 G01R31/3163 性能测试〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;6;3查看分类表>
申请人	苏州市运泰利自动化设备有限公司	申请人地址	江苏省苏州市太湖国家旅游度假区光福镇福利村102号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	苏州市运泰利自动化设备有限公司	当前权利人	苏州市运泰利自动化设备有限公司
发明人	李祥;周建宇;黄少海;党代表
代理机构	广州市越秀区哲力专利商标事务所（普通合伙）	代理人	王忠浩

摘要

本发明公开了一种半桥电路性能测试系统，包括用于接入信号的信号输入单元、继电器矩阵单元、用于测试半桥电路输出波形峰值的峰值测试单元、频率测试单元、功率电阻切换单元、网口通信单元、用于建立并联电路的功率电阻、控制端，继电器矩阵单元分别与信号输入单元、峰值测试单元、频率测试单元、功率电阻切换单元、网口通信单元连接，功率电阻切换单元根据半桥电路上MOS管或下MOS管的电阻的导通状态，控制功率电阻与上MOS管或下MOS管并联。在半桥电路工作时，根据半桥电路上MOS管或下MOS管的电阻的导通状态，采用功率电阻、峰值测试单元、频率测试单元的协调运作进行MOS管的导通电阻的测量，提高了测试效率，解决了工作时无法测量MOS管的问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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