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一种抛光设备及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201910717529.8
  • IPC分类号:B24B27/00;B24B41/06;B24B1/00
  • 申请日期:
    2019-08-05
  • 申请人:
    西安奕斯伟硅片技术有限公司
著录项信息
专利名称一种抛光设备及方法
申请号CN201910717529.8申请日期2019-08-05
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2019-10-08公开/公告号CN110303419A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B24B27/00IPC分类号B;2;4;B;2;7;/;0;0;;;B;2;4;B;4;1;/;0;6;;;B;2;4;B;1;/;0;0查看分类表>
申请人西安奕斯伟硅片技术有限公司申请人地址
陕西省西安市高新区锦业路1号都市之门A座1323室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人西安奕斯伟硅片技术有限公司当前权利人西安奕斯伟硅片技术有限公司
发明人白宗权
代理机构北京银龙知识产权代理有限公司代理人许静;刘伟
摘要
本发明实施例提供了一种抛光设备及方法,所述抛光设备包括:至少一个第一抛光头,每一个第一抛光头包括:第一材质的第一吸盘,当第一吸盘用于固定待处理硅片时,待处理硅片的第一表面与第一吸盘贴合连接;至少一个第二抛光头,每一个第二抛光头包括:第二材质的第二吸盘,所述第二材质的硬度大于所述第一材质,当第二吸盘用于固定待处理硅片时,待处理硅片的第一表面与第二吸盘贴合连接;至少一个抛光盘,抛光盘与第一抛光头和第二抛光头可转动连接,通过第一抛光头和第二抛光头分别将待处理硅片的与第一表面相对的第二表面在抛光盘上进行研磨处理,这样可以提高待处理硅片表面的平整度,还可以减少待处理硅片表面颗粒的残留数量,从而得到表面性能优异的硅片。

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