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一种在树脂基片使用磁控溅射制备ITO膜的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201110295242.4
  • IPC分类号:C23C14/35;C23C14/06
  • 申请日期:
    2011-09-30
  • 申请人:
    芜湖长信科技股份有限公司
著录项信息
专利名称一种在树脂基片使用磁控溅射制备ITO膜的方法
申请号CN201110295242.4申请日期2011-09-30
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2012-01-11公开/公告号CN102312208A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C23C14/35IPC分类号C;2;3;C;1;4;/;3;5;;;C;2;3;C;1;4;/;0;6查看分类表>
申请人芜湖长信科技股份有限公司申请人地址
安徽省芜湖市经济技术开发区汽经二路以东 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人芜湖长信科技股份有限公司当前权利人芜湖长信科技股份有限公司
发明人许沭华;夏大映;张兵;何晏兵;孔德兴;康傲飞
代理机构芜湖安汇知识产权代理有限公司代理人张小虹
摘要
本发明公开了一种在树脂基片上使用磁控溅射制备ITO膜的方法,该方法具体步骤包括:a、将树脂基片放入磁控溅射设备的装载室,密封后进行抽真空;b、将树脂基片运送至加热室,将基片加热至150~250℃;c、将加热后的树脂基片运送至溅射室,采用磁控溅射方式进行ITO膜沉积,依ITO面电阻值的不同,溅射室内阴极直流电源输入功率为0.6KW~6KW;d、将镀膜完毕的基片运送至冷却室进行冷却;e、将冷却后的基片放入卸载室,卸片。该工艺方法可以在树脂基片上利用连续垂直式磁控溅射制备低电阻率、高质量的ITO膜,且所制备的ITO膜具有电阻均匀性好、电阻率低、高透过率、较好的化学稳定性等性能。

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