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一种整流器件及其制备方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201510449706.0
  • IPC分类号:H01L27/06;H01L29/78;H01L29/861;H01L29/06;H01L21/77
  • 申请日期:
    2015-07-28
  • 申请人:
    无锡华润华晶微电子有限公司
著录项信息
专利名称一种整流器件及其制备方法
申请号CN201510449706.0申请日期2015-07-28
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2017-02-15公开/公告号CN106409827A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L27/06IPC分类号H;0;1;L;2;7;/;0;6;;;H;0;1;L;2;9;/;7;8;;;H;0;1;L;2;9;/;8;6;1;;;H;0;1;L;2;9;/;0;6;;;H;0;1;L;2;1;/;7;7查看分类表>
申请人无锡华润华晶微电子有限公司申请人地址
江苏省无锡市新区太湖国际科技园菱湖大道180号-22 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人无锡华润华晶微电子有限公司当前权利人无锡华润华晶微电子有限公司
发明人钟圣荣;邓小社;周东飞
代理机构北京品源专利代理有限公司代理人孟金喆;胡彬
摘要
本发明公开了一种整流器件及其制备方法。该器件包括第一导电类型的衬底、元胞区和终端区。其中,元胞区的衬底正面设有沟槽型区,沟槽型区底部设有第二导电类型埋层区,元胞区的衬底正面除沟槽型区以外的剩余区域设有第二导电类型体区。该整流器件中同时包含了MOS结构和PN结,可将MOS器件和PN二极管的优势结合到一起;且采用沟槽型结构,不会产生结型场效应管寄生电阻,即不会限制正向导通压降的降低,同时还可增加器件在单位面积内的沟道密度,减低器件成本;沟槽型区底部的第二导电类型埋层区可有效提高阻断电压。因此,该整流器件不仅结构简单,而且具有低正向导通压降以及高阻断电压,性能优异。

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