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一种校准标记位置的装置及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200910047952.8
  • IPC分类号:G03F9/00
  • 申请日期:
    2009-03-20
  • 申请人:
    上海微电子装备有限公司
著录项信息
专利名称一种校准标记位置的装置及方法
申请号CN200910047952.8申请日期2009-03-20
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2009-09-02公开/公告号CN101520613
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G03F9/00IPC分类号G;0;3;F;9;/;0;0查看分类表>
申请人上海微电子装备有限公司申请人地址
上海市张江高科技园区张东路1525号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海微电子装备(集团)股份有限公司当前权利人上海微电子装备(集团)股份有限公司
发明人朱健;孙刚
代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)代理人屈蘅;李时云
摘要
本发明提出一种校准标记位置的装置与方法,用于获取标记相对于参考光栅的旋转量。该校准标记位置的装置包括:第一采集单元以及图像处理单元。第一采集单元用于采集并输出所述标记的静态图像数据。图像处理单元耦接第一采集单元,并且包括存储单元以及计算单元。存储单元,用于接收静态图像数据,并将所述标记的静态图像数据转化为数字信号。计算单元耦接存储单元,接收所述数字信号以进行计算,得到旋转量。该校准标记位置的装置及方法,可以减少由于实际标记与硅片存在旋转导致的偏差,提高了测量精度,同时省去测量硅片旋转、然后再摆正或修正的步骤,提高了生产效率,增加了产品良率。

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