利用垂直断层成像的检查方法

发明专利无效专利

申请号：
CN00816889.X
IPC分类号：--
申请日期：
2000-11-07
申请人：
泰瑞达因公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	利用垂直断层成像的检查方法
申请号	CN00816889.X	申请日期	2000-11-07
法律状态	撤回	申报国家	暂无
公开/公告日	2003-04-09	公开/公告号	CN1409816
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	泰瑞达因公司	申请人地址	美国马萨诸塞州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	泰瑞达因公司	当前权利人	泰瑞达因公司
发明人	罗希特·帕特奈克
代理机构	隆天国际专利商标代理有限公司	代理人	潘培坤;陈红

摘要

一种利用垂直断层成像的检查方法。首先获取穿过所关注的目标的多个水平断层图像；再从代表水平断层图像的数据中划定所关注的垂直区域；然后在落入所关注的垂直区域内的水平断层图像数据的基础上构建垂直断层图像；最后分析垂直断层图像数据从而检测出缺陷。另外，提供一种检测BGA接合点中的缺陷的方法，该方法包括定位该接合点的中心，该方法还包括测量穿过接合点中心的多个直径和应用准则来把测得的直径与预期的直径相比较。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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