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用于零件检查的X射线后向散射

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201710621462.9
  • IPC分类号:G01N23/203;H01J35/14
  • 申请日期:
    2017-07-27
  • 申请人:
    波音公司
著录项信息
专利名称用于零件检查的X射线后向散射
申请号CN201710621462.9申请日期2017-07-27
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2018-03-20公开/公告号CN107817257A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N23/203IPC分类号G;0;1;N;2;3;/;2;0;3;;;H;0;1;J;3;5;/;1;4查看分类表>
申请人波音公司申请人地址
美国伊利诺伊州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人波音公司当前权利人波音公司
发明人M·萨法伊
代理机构北京纪凯知识产权代理有限公司代理人徐东升;赵蓉民
摘要
本文描述用于零件(110)的无损检查的X射线后向散射装置(10/100/109)。该装置包括X射线发射器(12)和波带片(102)。X射线发射器(12)包括X射线防护罩(24)、真空管(28)、阴极(30)和阳极(32)。X射线防护罩(24)具有发射孔(26)。真空管(28)在X射线防护罩(24)内。阴极(30)和阳极(32)被封装在真空管(28)内。阴极(30)生成电子发射。阳极(32)相对阴极(30)安置以接收电子发射并且将电子发射转换为硬性X射线发射,并且阳极(32)相对发射孔(26)安置以引导硬性X射线发射的至少一部分通过发射孔。波带片(102)在X射线防护罩(24)外部并且相对发射孔(26)安置以接收硬性X射线发射的该部分并且将该部分聚焦为聚焦硬性X射线发射。

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