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一种半导体微纳单晶气敏传感器测试系统

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201210566058.3
  • IPC分类号:G01N27/00;G01R31/26
  • 申请日期:
    2012-12-24
  • 申请人:
    东北师范大学
著录项信息
专利名称一种半导体微纳单晶气敏传感器测试系统
申请号CN201210566058.3申请日期2012-12-24
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2013-04-17公开/公告号CN103048358A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N27/00IPC分类号G;0;1;N;2;7;/;0;0;;;G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人东北师范大学申请人地址
吉林省长春市人民大街5268号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人东北师范大学当前权利人东北师范大学
发明人汤庆鑫;童艳红;蔡彬;塔利哈尔;裴腾飞
代理机构长春市东师专利事务所代理人刘延军;赵军
摘要
本发明涉及气敏传感器测试技术领域,具体涉及一种用于半导体微纳单晶的简单稳定可靠的测试系统。主要由IC电路板、排针、测试芯片底座、测试芯片转换座、测试腔体、与测试腔体配套的盲板和紧固件、固定支架、和外界信号输出端口,进气系统、气体流量监控及组分调控单元、尾气回收系统以及半导体电学测试系统组成。利用本发明,提供了一种对半导体微纳单晶元件进行气敏测试的方法,结构简单、方便实用、工作效率高能够满足低气压气敏测试需要。

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