一种基于FFT的相位差测量装置的测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310506629.9
IPC分类号：G01R25/00
申请日期：
2013-10-24
申请人：
北京理工大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种基于FFT的相位差测量装置的测量方法
申请号	CN201310506629.9	申请日期	2013-10-24
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-01-29	公开/公告号	CN103543334A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R25/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R25/00 测量一个电压与一个电流之间的相位角或者电压之间或电流之间的相位角的装置〔2〕	IPC分类号	G;0;1;R;2;5;/;0;0查看分类表>
申请人	北京理工大学	申请人地址	北京市海淀区中关村南大街5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京理工大学	当前权利人	北京理工大学
发明人	陈慧敏;朱雄伟;高志林
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提供一种基于FFT的相位差测量装置及方法，属于信号处理技术领域，特别适用于相位式激光测距系统等需要高精度测量相位差的场合。其测量装置为由一款处理器芯片及其外围电路构成的硬件电路。其测量方法包括：对两路相同频率的带有相位差的信号进行同步模数转换；由定时器控制采样频率；连续得到的两组模数转换结果通过DMA控制器存入处理器RAM；对上述两组数据进行浮点复数FFT运算，得出信号的数字频谱；计算出上述两组数字频谱中对应信号频率的谱线的相位，相减后得出上述两路模拟信号的相位差。应用本发明提供的相位差测量装置及方法进行相位差测量，其突出的优点是硬件密度低，测相精度高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供