大口径熔石英光学元件基准标识的构建方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201810284497.2
IPC分类号：G01N21/88
申请日期：
2018-04-02
申请人：
中国工程物理研究院激光聚变研究中心

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著录项信息

专利名称	大口径熔石英光学元件基准标识的构建方法
申请号	CN201810284497.2	申请日期	2018-04-02
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2018-10-23	公开/公告号	CN108693189A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/88 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;8查看分类表>
申请人	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	申请人地址	四川省绵阳市游仙区绵山路64号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	当前权利人	中国工程物理研究院激光聚变研究中心
发明人	张传超;廖威;陈静;张丽娟;蒋晓龙;王海军;栾晓雨;周海;袁晓东
代理机构	重庆为信知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	蔡冬彦

摘要

本发明公开了一种大口径熔石英光学元件基准标识的构建方法，按照以下步骤进行：S1：在熔石英元件表面上的非通光区加工有至少一个编号基准标识，该编号基准标识均由多个字符点一组成，每个编号基准标识的字符点一共同构成一个布莱尔盲文数字字符；S2：沿熔石英元件表面的边缘加工有阵列分布的坐标系基准标识，各个坐标系基准标识能够在熔石英元件表面构建直角网格坐标系，该坐标系基准标识均由多个字符点二组成，每个坐标系基准标识的字符点二共同构成一个布莱尔盲文数字字符。采用本发明公开的大口径熔石英光学元件基准标识的构建方法，具有快速识别大口径熔石英光学元件和精确定位大口径熔石英光学元件表面激光损伤的能力。

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该专利没有引用任何外部专利数据！

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