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基于脉冲光调制的光时延测量方法及装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110658905.8
  • IPC分类号:H04B10/079;H04B10/524
  • 申请日期:
    2021-06-15
  • 申请人:
    南京航空航天大学
著录项信息
专利名称基于脉冲光调制的光时延测量方法及装置
申请号CN202110658905.8申请日期2021-06-15
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-08-31公开/公告号CN113328797A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04B10/079IPC分类号H;0;4;B;1;0;/;0;7;9;;;H;0;4;B;1;0;/;5;2;4查看分类表>
申请人南京航空航天大学申请人地址
江苏省南京市江宁区将军大道29号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人南京航空航天大学当前权利人南京航空航天大学
发明人李树鹏;潘时龙;刘熙;王祥传;汤晓虎;王立晗;陈旭峰
代理机构北京德崇智捷知识产权代理有限公司代理人杨楠
摘要
本发明公开了一种基于脉冲光调制的光时延测量方法,用单频微波信号对光脉冲信号进行强度调制,并以生成的光载微波信号对待测光链路进行探测;对探测光信号进行光电转换,并从转换后的电信号中提取出单频微波信号的同频分量;在光脉冲信号的脉宽时间内对单频微波信号以及单频微波信号的同频分量同时进行数字化采样,并在数字域得到两者之间的相位差;以光脉冲信号的发出时刻至采样时刻之间的时间作为待测光链路的光时延粗测值,并基于光时延粗测值解算出整周模糊度,进而解算得到待测光链路精确的光时延。本发明还公开了一种基于脉冲光调制的光时延测量装置。本发明具有测量速度快,结构简单,实现成本低,不易受环境影响的优点。

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