一种触摸屏测试装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201010131062.8
IPC分类号：G01R31/00;G06F3/041
申请日期：
2010-03-02
申请人：
苏州日和科技有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种触摸屏测试装置
申请号	CN201010131062.8	申请日期	2010-03-02
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2010-07-21	公开/公告号	CN101782616A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;6;F;3;/;0;4;1查看分类表>
申请人	苏州日和科技有限公司	申请人地址	江苏省苏州市相城区望亭镇堰头村变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	苏州日和科技有限公司	当前权利人	苏州日和科技有限公司
发明人	谢小峰
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明涉及一种对具有金手指器件进行测试的测试装置，其特征在于：包括连接板、第一载体模块(6)和第二载体模块(7)；所述的连接板置于所述第二载体模块(7)上，其至少具有第一金手指接触部，所述第一金手指接触部用于与所述器件的金手指相搭接，以将测试信号施加于所述器件；所述第一载体模块(6)用于搭载所述器件，所述第一和第二载体模块(6，7)可以相对运动，所述相对运动可实现所述搭接。由于采用了连接块的方式测试，避免了采用探针所带来的缺陷，既不会有损于触摸屏的金手指的镀层，又可以对高度密集的金手指进行测试。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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