一种压电材料性能自动测试系统

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201120454106.0
IPC分类号：G01R29/22
申请日期：
2011-11-16
申请人：
中国科学院上海硅酸盐研究所

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种压电材料性能自动测试系统
申请号	CN201120454106.0	申请日期	2011-11-16
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R29/22 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R29/00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置 G01R29/22 压电性质的测量	IPC分类号	G;0;1;R;2;9;/;2;2查看分类表>
申请人	中国科学院上海硅酸盐研究所	申请人地址	上海市长宁区定西路1295号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海硅酸盐研究所	当前权利人	中国科学院上海硅酸盐研究所
发明人	范晓荣;董显林
代理机构	上海瀚桥专利代理事务所（普通合伙）	代理人	曹芳玲;姚佳雯

摘要

本实用新型涉及一种压电材料性能自动测试系统，该系统包括控制单元、与待测压电材料相连的多个可程控测试单元、以及连接在控制单元与多个可程控测试单元之间的传输单元，所述各可程控测试单元通过所述传输单元接收来自所述控制单元的指令以对所述待测压电材料的压电性能进行自动测试，并将测试得到的直接压电性能数据通过所述传输单元反馈至所述控制单元，所述控制单元将接收到的所述直接压电性能数据发送至显示单元并进行记录，所述直接压电性能数据为包括谐振频率、谐振阻抗、反谐振频率、反谐振阻抗、电导、电抗、容抗、静态电容和介电损耗在内的直接压电性能数据。本系统可对压电元器件的性能进行自动测试。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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