一种内存可靠性测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201210541340.6
IPC分类号：G06F11/30
申请日期：
2012-12-14
申请人：
浪潮电子信息产业股份有限公司

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著录项信息

专利名称	一种内存可靠性测试方法
申请号	CN201210541340.6	申请日期	2012-12-14
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-04-03	公开/公告号	CN103019909A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F11/30 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F11/00 错误检测；错误校正；监控（在基于记录载体和传感器之间的相对运动而实现的信息存储中的错误检测、校正或监控所用的方法或装置入 G11B 20/18；监控，即，监控记录或重现的进程入G11B 27/36；静态存储中所用的方法或装置入G11C29/00）〔1，4，2006.01〕 G06F11/30 监控〔3〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;1;/;3;0查看分类表>
申请人	浪潮电子信息产业股份有限公司	申请人地址	山东省济南市高新区舜雅路1036号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浪潮电子信息产业股份有限公司	当前权利人	浪潮电子信息产业股份有限公司
发明人	王磊;王守昊
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提供一种内存可靠性测试方法，其具体测试步骤为：准备测试硬件平台：准备测试主机平台、预测试的内存条以及在测试主机上安装操作系统和测试软件，并将VID拨码开关电路接入主板上内存VR控制器；将测试平台置于高温环境中，通过拨码开关设置至少两组内存的供电电压，开始测试；不同电压环境下分别测试至少24小时，该不同电压环境下的测试时间相同，运行完成后，检查内部文件中记录的内存报错提示并记录，结束测试。该内存可靠性测试方法和现有技术相比，具有设计合理、结构简单、使用方便等特点，将拨码开关电路引入到内存可靠性测试中,改变原来无法直接对内存电压按照需求直接进行调整的不足，适用性强。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN101881671A	2010-11-10	2009-08-21	一种虚拟程控温度测试仪器无效专利	中华人民共和国无锡出入境检验检疫局
2	CN1405781A	2003-03-26	2001-08-17	非挥发性内存的可靠性测试方法与电路失效专利	旺宏电子股份有限公司
3	CN1464398A	2003-12-31	2002-06-06	系统级内存环境测试的方法及装置失效专利	联想(北京)有限公司

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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