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X光探测器的探测器模块对齐情况检测方法及系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201310205040.5
  • IPC分类号:A61B6/03;G01B11/00
  • 申请日期:
    2013-05-29
  • 申请人:
    上海西门子医疗器械有限公司
著录项信息
专利名称X光探测器的探测器模块对齐情况检测方法及系统
申请号CN201310205040.5申请日期2013-05-29
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2014-12-17公开/公告号CN104207795A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号A61B6/03IPC分类号A;6;1;B;6;/;0;3;;;G;0;1;B;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人上海西门子医疗器械有限公司申请人地址
上海市浦东新区南汇区周祝公路278号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海西门子医疗器械有限公司当前权利人上海西门子医疗器械有限公司
发明人吕文刚;郭华伟
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本发明中公开了一种X光探测器的探测器模块对齐情况检测方法及系统。所述X光探测器包括沿X向排列的多个探测器模块,每个探测器模块由沿Z向排列的偶数个的探测器子模块组成,每个探测器子模块由沿X向排列的多个探测器元件构成,使得每个探测器模块分别由以二维方式设置的多个探测器元件构成;其中,方法包括:对X光探测器的探测器模块在Z向的不同位置进行CT成像,得到每个探测器模块两头的探测器子模块的图像数据曲线,根据两条曲线之间的交点得到该探测器模块的中心位置,根据每个探测器模块各自的中心位置确定各探测器模块的对齐情况。本发明中的技术方案能够实现对X光探测器的探测器模块对齐情况的检测。

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