对植物根际有效性硅分布进行二维可视化的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201911178926.9
IPC分类号：G01N1/28;G01N21/84
申请日期：
2019-11-26
申请人：
天津大学;中国科学院城市环境研究所

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著录项信息

专利名称	对植物根际有效性硅分布进行二维可视化的方法
申请号	CN201911178926.9	申请日期	2019-11-26
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-02-25	公开/公告号	CN110836800A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N1/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N1/00 取样；制备测试用的样品（用于自动分析的材料处理入G01N 35/00） G01N1/28 测试用样品的制备（将样品安装在显微镜载片上入G02B 21/34；电子显微镜中支承被分析的物品或材料的装置入H01J 37/20）	IPC分类号	G;0;1;N;1;/;2;8;;;G;0;1;N;2;1;/;8;4查看分类表>
申请人	天津大学;中国科学院城市环境研究所	申请人地址	天津市南开区卫津路92号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	天津大学,中国科学院城市环境研究所	当前权利人	天津大学,中国科学院城市环境研究所
发明人	管冬兴;李刚;余光辉;朱永官
代理机构	焦作加贝专利代理事务所（普通合伙）	代理人	冯新志

摘要

本发明公开了一种对植物根际有效性硅分布进行二维可视化的方法，属于环境微界面化学成像研究技术领域。该方法具体为：采用径迹蚀刻膜、聚醚砜滤膜和PZ‑DGT吸附膜，依次与植物根际土壤接触，放置一段时间后，取出聚醚砜滤膜和PZ‑DGT吸附膜，分析PZ‑DGT吸附膜上硅累积量的分布特征，通过数据处理实现植物根际有效性硅分布的二维可视化。该方法对植物根际有效性硅分布进行二维可视化，实现微米至亚毫米级的分辨率。

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