一种基于波型转换的TOFD近表面盲区缺陷定位检测方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201610530037.4
IPC分类号：G01N29/06;G01N29/07
申请日期：
2016-07-07
申请人：
大连理工大学

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著录项信息

专利名称	一种基于波型转换的TOFD近表面盲区缺陷定位检测方法
申请号	CN201610530037.4	申请日期	2016-07-07
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2016-12-07	公开/公告号	CN106198739A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N29/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N29/00 利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像（G01N 3/00至G01N 27/00优先）〔4〕 G01N29/04 固体分析（利用声发射技术入G01N 29/14）〔4，5，8〕 G01N29/06 内部的显像，例如，声显微技术〔4，8〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;9;/;0;6;;;G;0;1;N;2;9;/;0;7查看分类表>
申请人	大连理工大学	申请人地址	辽宁省大连市高新园区凌工路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	大连理工大学	当前权利人	大连理工大学
发明人	金士杰;康达;丁宁;林莉
代理机构	大连星海专利事务所	代理人	花向阳;杨翠翠

摘要

一种基于波型转换的TOFD近表面盲区缺陷定位检测方法，属于无损检测领域。该方法采用一套包括TOFD超声检测仪、检测探头、校准试块、扫查装置的超声检测系统进行TOFD检测。TOFD探头发射的纵波遇到缺陷后会发生衍射，当入射角度达到临界值时会发生纵波‑横波或横波‑纵波的波型转换。根据B扫查图像中不同类型波声程之间的几何关系，构建缺陷端点位置求解模型，通过测量变型波最短声程在垂直方向的投影距离d′，变型波交点与其声程最短位置间的水平方向投影距离S，结合探头中心距2S、纵波声速Cl与横波声速Cs，则缺陷端点至检测面距离d可通过公式计算得到，实现近表面盲区缺陷的定位。该方法不需要提取原始A扫描信号进行分析及后处理，可操作性强，具有较好的工程应用价值。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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