一种应用曲线模拟和核辐射原理测量物位的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010231422.5
IPC分类号：G01F23/22;G01F17/00
申请日期：
2020-03-27
申请人：
洛森自动化科技（上海）有限公司

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著录项信息

专利名称	一种应用曲线模拟和核辐射原理测量物位的方法
申请号	CN202010231422.5	申请日期	2020-03-27
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-09-10	公开/公告号	CN113375757A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01F23/22 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01F 容积、流量、质量流量或液位的测量；按容积进行测量〔2，5〕 G01F23/00 液体液面或流动的固态材料料面的指示或测量，例如，用容积指示，应用报警装置的指示 G01F23/22 通过测量除线性尺寸、压力或重量以外的其他与被测液面有关的物理变量，例如，通过测量蒸汽或水传热的差异（含浮标的应用入G01F 23/30）	IPC分类号	G;0;1;F;2;3;/;2;2;;;G;0;1;F;1;7;/;0;0查看分类表>
申请人	洛森自动化科技（上海）有限公司	申请人地址	上海市闵行区沪光东路89号13幢3楼330室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	洛森自动化科技（上海）有限公司	当前权利人	洛森自动化科技（上海）有限公司
发明人	李闯;陈旗
代理机构	上海宏京知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	周高

摘要

本发明提供一种应用曲线模拟和核辐射原理测量物位的方法，涉及容器中物料的物位测量领域，所述方法包括步骤S1：获取基准物料的辐射量Im与基准物料体积v的关系；S2：获取被测物料体积V与基准物料体积v的关系；S3：获取容器内被测物料体积V与物料高度h的关系；S4：获取基准物料的辐射量差值ΔIt与基准物料温度差值Δt的关系；S5：获取最终辐射量I与辐射量Im、辐射量差值ΔIt的关系，并且对最终辐射量I进行环境辐射校正；S6：基于S1～S5获取不同基准物料温度差值Δt的条件下，最终辐射量I与被测物料高度h的关系。本发明解决了现有方法对容器中物料的物位测量存在的辐射危害、测量不准确等缺陷。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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