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形成微电子装置的方法以及相关微电子装置、存储器装置和电子系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110268041.9
  • IPC分类号:H01L23/528;H01L21/768;H01L27/11524;H01L27/11551;H01L27/1157;H01L27/11578
  • 申请日期:
    2021-03-12
  • 申请人:
    美光科技公司
著录项信息
专利名称形成微电子装置的方法以及相关微电子装置、存储器装置和电子系统
申请号CN202110268041.9申请日期2021-03-12
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-09-17公开/公告号CN113410211A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L23/528IPC分类号H;0;1;L;2;3;/;5;2;8;;;H;0;1;L;2;1;/;7;6;8;;;H;0;1;L;2;7;/;1;1;5;2;4;;;H;0;1;L;2;7;/;1;1;5;5;1;;;H;0;1;L;2;7;/;1;1;5;7;;;H;0;1;L;2;7;/;1;1;5;7;8查看分类表>
申请人美光科技公司申请人地址
美国爱达荷州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人美光科技公司当前权利人美光科技公司
发明人J·D·格林利;C·G·埃莫;L·富马加利;J·D·霍普金斯;R·J·克莱因;C·W·佩茨;E·A·麦克蒂尔
代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司代理人王龙
摘要
本申请涉及形成微电子装置的方法,以及相关微电子装置、存储器装置和电子系统。微电子装置包括第一导电结构、阻挡结构、导电衬里结构和第二导电结构。所述第一导电结构在第一介电结构中的第一填充开口内。所述阻挡结构在所述第一介电结构中的所述第一填充开口内且竖直地上覆所述第一导电结构。所述导电衬里结构在所述阻挡结构上且在竖直地上覆所述第一介电结构的第二介电结构中的第二填充开口内。所述第二导电结构竖直地上覆所述第二介电结构中的所述第二填充开口内的所述导电衬里结构且水平地由所述第二介电结构中的所述第二填充开口内的所述导电衬里结构环绕。还描述存储器装置、电子系统和形成微电子装置的方法。

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