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一种测量物体几何属性或距离的方法及系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201510086105.8
  • IPC分类号:G01B11/00;G01B11/02
  • 申请日期:
    2015-02-16
  • 申请人:
    武汉天远视科技有限责任公司
著录项信息
专利名称一种测量物体几何属性或距离的方法及系统
申请号CN201510086105.8申请日期2015-02-16
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2015-06-03公开/公告号CN104677277A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B11/00IPC分类号G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;B;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人武汉天远视科技有限责任公司申请人地址
湖北省武汉市东湖开发区华光大道8号学府佳园A2幢5-402号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人武汉天远视科技有限责任公司当前权利人武汉天远视科技有限责任公司
发明人张勇
代理机构北京轻创知识产权代理有限公司代理人陈薇
摘要
本发明涉及一种测量物体几何属性或距离的方法及系统,包括获取视场重叠多目镜头拍摄器件镜头光心间距离;对待测量物体拍摄不少于1组影像;恢复第一摄影坐标空间中第二影像相对方位参数和第二相机参数;计算第二影像相对位置距离,计算镜头光心间距离和第二影像相对位置距离的比例系数;将第一摄影坐标空间进行比例系数缩放,获得第二摄影坐标空间;获取第二摄影坐标空间中镜头相对方位参数和待测量物体关键点的第二摄影空间坐标,计算物体的几何属性,或计算待测量物体关键点到镜头的距离。本发明实现了测量物体几何属性或距离,可直接推广到具有视场重叠多目镜头拍摄仪器的便携式电子设备,如手机、平板电脑或笔记本电脑上。

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