一种后向散射系数线性约束的水体固有光学量反演方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201510864444.4
IPC分类号：G01N21/49
申请日期：
2015-12-01
申请人：
中国科学院上海技术物理研究所

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专利名称	一种后向散射系数线性约束的水体固有光学量反演方法
申请号	CN201510864444.4	申请日期	2015-12-01
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2016-03-30	公开/公告号	CN105445232A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/49 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/47 散射，即漫反射（G01N 21/25，G01N 21/41优先）〔3〕 G01N21/49 固体或流体中的散射〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;4;9查看分类表>
申请人	中国科学院上海技术物理研究所	申请人地址	上海市虹口区玉田路500号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海技术物理研究所	当前权利人	中国科学院上海技术物理研究所
发明人	张长兴;谢锋;刘成玉;邵红兰;刘智慧;杨贵
代理机构	上海新天专利代理有限公司	代理人	郭英

摘要

本发明公开了一种后向散射系数线性约束的水体固有光学量反演方法，本发明基于可见近红外-短波光谱水面以上高光谱数据，通过步骤(1)利用1600-1700nm波段数据校正离水反射率，计算水下反射率和单次发射率；(2)利用700-850nm波段的后向散射系数光谱线性约束，计算参考波段颗粒吸收系数的最优值；(3)计算的700-850nm波段一系列波长的颗粒后向散射系数，进行回归得到颗粒后向散射系数估算模型中的参数，计算所有波长的后向散射系数和吸收系数。本发明可以适用于内陆浑浊水体的固有光学量反演，对内陆水体水质监测具有重要的作用。

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